活動地點

財團法人台灣電子檢驗中心(桃園縣龜山鄉文明路29巷8號)

 

活動有效日期

2014/2/11　

 

課程目的

從新專利法角度切入，引領學員瞭解新專利法之要點及應用在專利侵害鑑定產品上；讓學員清楚瞭解新專利法制之目的為促進產業發展，鼓 勵、保護及利用之專利權範圍，及須注意名詞釋義何謂技術特徵？又何謂必要技術特徵？或什麼是新穎特徵？再判斷是否落入系爭專利權範圍 內？避免侵權訴訟。課程內容由淺入深，經由實務專業講師會帶領學員重新詮釋新專利法，及運用在專利侵害產品上，包括專利侵害鑑定之依 據、流程及原則，配合侵權實務案例解析，採用雙向互動式教學，增加學員學習效果。

 

課程內容 

＊專利相關法規簡介：

(1)專利法(2)專利法施行細則(3)專利審查基準。

 

＊專利要件簡介：

(1)廣義要件：(i)申請要件(ii) 專利標的之定義(iii)專利揭露要件及狹義要件。

 

(2)狹義要件：(i)產業利用性(ii)新穎性(iii)進步性。

＊案例研討分別就(1)專利標的之定義(2)專利揭露要件(3)新穎性(4)擬制喪失新穎性(5)進步性等專利行政及民事訴訟事件相關實務案例作分析 研討。

 

Q&A

 

課程對象

1.專利商標法律事務所及智財權服務業之專利工程師。

2.產業界及研發機構等之研發、專利、法務、智財管理人員。

3.從事智財領域相關工作或對智財權有興趣者。

 

招生名額

30名，依報名及繳費完成之順序額滿為止（15人即開班）

 

課程費用

本課程：NT$3,000元/人（含稅、講義、及午餐）